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특허/실용신안

입자빔의 방출 이미지 획득 장치 및 방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 한국표준과학연구원
출원번호 10-2013-0080447
출원일자 2013-07-09
공개번호 20140703
공개일자 2014-07-01
등록번호 10-1413287-0000
등록일자 2014-06-23
권리구분 KPTN
초록 본 발명은 입자빔 소스로부터 방출되는 입자빔을 수신하여 2차전자를 방출하는 마이크로채널 플레이트; 상기 마이크로채널 플레이트로부터 생성된 2차전자를 수신하여 이를 광신호로 변환하는 형광스크린; 상기 형광스크린으로부터 방출되는 광 데이터를 수집하는 영상수집장치; 및 공간영역의 저주파 통과필터를 포함하여 이루이지며, 상기 영상수집장치로부터 얻어지는 데이타를 처리하여 영상화하는 영상처리장치;를 포함하는, 입자빔의 방출 이미지 획득 장치 및 이를 이용하여 입자빔의 방출 이미지를 획득하는 방법에 관한 것이다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020130080447
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE H01J-037/26,H01J-037/147,H01J-037/22
주제어 (키워드)