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AFM과 탐침형 센서를 이용한 세포독성의 정량적 평가시스템 및 방법

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기관명	NDSL
출원인	경희대학교 산학협력단
출원번호	10-2013-0012579
출원일자	2013-02-04
공개번호	20140814
공개일자	2014-10-31
등록번호	10-1455244-0000
등록일자	2014-10-21
권리구분	KPTN
초록	본 발명은 원자력 현미경(atomic force microscopy; AFM); 및 탐침형 센서를 포함하는 세포독성의 정량적 평가 시스템 및 (a) 원자력 현미경을 이용하여 세포의 탄성(elasticity) 또는 세포표면의 거칠기(roughness)를 측정하는 단계; 및 (b) 탐침형 센서를 이용하여 세포분비물질 또는 세포소모물질의 농도 변화의 농도를 시간에 따라 모니터링하는 단계를 포함하는 것인 세포독성의 정량적 평가 방법에 관한 것이다.
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020130012579
첨부파일

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