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장비 및 시설 기본정보
에너지분산형 X선 형광분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Seiko Instruments Inc. |
| 모델명 | Seiko SEA5120 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2003-01-27 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국화학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B522 |
| 표준분류명 | 기타장비 |
| 시설장비 설명 | 원리는 시료에 X선을 조사해 2차적으로 발생하는 X선(형광 X선)을 이용해서 원소의 정성ㆍ정량 분석을 하는 방법으로 사용되는 기술장비 검출기이다. 특징은 에너지 분산형 XRF (Energy Dispersive XRF; ED-XRF), 에너지 분석 능력을 가지는 반도체 검출기를 사용하는 방법인 기술장비 검출기입니다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images/equip/photo/.thumb/GM1I5fx8yXBvRwfFHjXx_w600.jpg |
| 장비위치주소 | 신뢰성평가센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2009-01-139665 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-krict_chem-00078 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |