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고온 엑스선회절분석기

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보유기관명	경북대학교 디스플레이 나노소재연구소
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드
표준분류명	시험·검사장비
시설장비 설명	본 장비는 X-Ray를 발생 시키는 X선 발생장치(X-Ray Generator, XG), 각도 2q를 측정하는 고니오메터(Goniometer), X선 강도(X-Rays Intensity)를 측정하는 계수기록장치(Electronic Circuit Panel, ECP), 이러한 것들을 제어하고 연산을 하는 제어연산장치로 구성되며 시료의 결정성을 통해 물리적 성질을 분석하는 장치임. 모든 원소는 고유의 회절 형상을 가지고 있는 것을 기초로 미지시료의 회절 형식과 이미 회절 데이터를 알고 있는 물질의 회절 형식을 비교하여 시료의 물질의 함유를 판정한다. 이러한 판정은 각종 물질의 X선 회절 데이터가 축적, 정리되어 있는 ASTM의 JCPDS 카드(JCPDS 카드, ICDD 카드)를 활용하여 진행함.
장비이미지코드	http://www.zeus.go.kr/storage/images/equip/photo/.thumb/mrOSJzmBiF3lcKrLbgjd_w600.jpg
장비위치주소	대구광역시 북구 산격동 1370번지 경북대학교 공대8호관
NFEC 등록번호	NFEC-2012-04-162374
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-DNI-00002
첨부파일

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