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장비 및 시설 기본정보
소각 산란 X-선 측정기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Rigaku |
| 모델명 | Nanopix |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2018-11-26 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B520 |
| 표준분류명 | 분석 |
| 시설장비 설명 | 소각(2T=~ 5°) 영역에서의 X-선 산란 data를 통해 나노(1~100nm) 단위 구조물질의 특성 분석을 하는 장비로서 나노 분말 및 기공체 분석(크기/형상/분포), 고분자 필름 및 fiber의 특성 분석, liquid crystals 및 표면의 물질분석에 활용 |
| 장비이미지코드 | https://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201812/20181213144713523.jpg |
| 장비위치주소 | 중앙분석센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2018-12-247632 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | https://www.zeus.go.kr/cloud/resvEq/read/Z-201903267952?cloudId=201411165954 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |