기업조회

본문 바로가기 주메뉴 바로가기

장비 및 시설 기본정보

전계방사형 주사전자현미경

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 히타치(HITACHI)
모델명 SU-8010
장비사양
취득일자 2012-02-21
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국생산기술연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A206
표준분류명 기타장비
시설장비 설명 전자현미경은 광학현미경에서 사용하는 가시광선 대신 전자선을, 또한 유리렌즈대신 전자렌즈를 사용하여 물체의 확대상을 만드는 장비로 전자총의 분류에 따라 나누면 열전자 방사형 타입과 전계방사형 타입의 두 종류로 나눌 수 있음.
열전자 방사형 타입 (Thermionic emission type) : 필라멘트(Filament), 워넬트(Wehnelt), 양극(Anode)으로 구성되며, 먼저 열전자가 필라멘트에서 방출되고, 필라멘트와 양극사이에 가속전압을 가함으로써 열전자에 에너지를 주어 전자빔을 생성함. 이 과정동안에 열전자들은 필라멘트와 웨넬트 사이에 가해진 바이어스 전압에 의해 Cross over point에 집속됨,전계 전자 방사형 타입 (Field emission type) : 전계 방사형 전자총의 전계 방출 전자원은 금속표면에 강력한 전기장이 형성되었을 때 방사되어 나오는 전자선을 이용하며, 음극에 날카롭게 가공된 Tip에 고압의 전기장을 가하면 표면에서 전자가 방출되는데 열전자 방출형 전자총에 비해 100 ~ 1000배 정도의 높은 휘도를 얻을수 있음, 본장비는 진공의 환경에서 FEG source에서 발생된 이차전자를 샘플에 주사하여 샘플에서 발생하는 이차전자(SE) 및 후방산란전자(BSE)를 활용하여 Sub-Micro & Sub-Nano의 미세 영역을 관찰하는 기본 원리를 활용하여 고배율의 미세 구조의 표면 관찰이 가능함.
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images/equip/photo/.thumb/9HooaUVOKehYUH4HmmRo_w600.jpg
장비위치주소 경기지역본부 B동 207호
NFEC 등록번호 NFEC-2012-03-155095
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-kitech-00112
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)