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장비 및 시설 기본정보
전계방사형 주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol Ltd. |
| 모델명 | JSM-6700F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2002-04-08 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국화학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 기타장비 |
| 시설장비 설명 | 전자빔을 물질에 주사할 때 발생하는 2차 전자를 이용하여 물질의 표면을 관찰하는 원리임. 이 장비의 가장 큰 특징은 낮은 가속전압 하에서 고해상도의 이미지를 얻을 수 있다는데 있으며 이는 높은 가속전압 하에서 시료 표면의 손상이 일어나기 쉬운 유기재료(고분자 등)의 관측과 표면의 섬세한 구조를 관측하는데 유리한 장비임을 의미함. 기초 연구 및 화학 관련 산업 전반의 시료의 표면 관찰 및 구성 원소의 분석에 활용됨. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images/equip/photo/.thumb/voXWjs46V4WNKOZ672mq_w600.jpg |
| 장비위치주소 | 10연구동 310호 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-02-140427 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-krict_chem-00031 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |