| 보유기관명 |
전자부품연구원 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
C514 |
| 표준분류명 |
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| 시설장비 설명 |
400MHz 800Mbps 512pin이상 지원 1000핀 이상의 핀확장성 아날로그 테스트를 위한 full 규격환경지원 5년분할납부상기의 Mixed 반도체테스트 장비는 Mixed SoC테스트에 활용된다. 이 장비는 Digital Analog 및 mixed반도체를 모두 테스트 할 수 있는 장비로 국내에서 개발되는 연구용 및 Mass prototype용 반도체를 테스트 하는데 활용되며 wafer prober장비와 함께 운용하여 칩테스트이외 |
| 장비이미지코드 |
http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/itep200710/.thumb/0A095C20EBA2909A492570A4004F0F2B.jpg |
| 장비위치주소 |
클린룸 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2007-10-016818 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0003315 |
| 첨부파일 |
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