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장비 및 시설 기본정보
원자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | PSIA |
| 모델명 | XE-100 INV SYSTEM |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2003-12-26 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 이화여자대학교 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | F200 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 원자현미경은 제1세대인 광학현미경과 제2세대인 전자현미경 다음의 제3세대 현미경이다. 광학현미경의 배율이 최고 수천 배 전자현미경의 배율이 최고 수십 만 배인데 비해 원자현미경의 배율은 최고 수천만 배로서 개개의 원자를 관찰할 수 있다. 원자현미경은 주사탐침현미경의 일종으로서 칸틸레버에 끝에 부착된 미세한 탐침을 시료에 근접시켜 시료과 탐침 끝 사이의 상호 작용을 이용하여 물질의 표면특성 및 형상을 원자단위까지 측정할 수 있는 장치이다. 원자현미경은 원자 분자 단위의 물질 조작이 가능하며 진공 상태나 대기 중 뿐 아니라 액체 내에서도 작동이 가능하다. 원자현미경의 수직방향의 분해능은 수평 방향보다 좋으며 XE-120은 국내 기술로 개발된 원자현미경으로서 xy와 z축의 scan이 분리되어 있어 정확성 및 재현성이 뛰어나다.원자현미경 고분해능 표면 구조 측정 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201310/.thumb/20131021111324152.jpg |
| 장비위치주소 | 서울 서대문구 대현동 이화여자대학교 11-1번지 이화여자대학교 종합과학관 A동 4층 406 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2004-11-000414 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0000092 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |