8인치 수동 프루브 스테이션
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | 나노시스템 |
모델명 | 860 |
장비사양 | |
취득일자 | 2000-09-04 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국전기연구원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | D0 |
표준분류명 | 계측 |
시설장비 설명 | 특징 본 장비는 온웨이퍼 측정을 위해 웨이퍼를 지지하는 웨이퍼척과 전기적 특성을 잴 수 있도록 프로브들로 구성되어 있다. 특히 온도 (<300도)를 가변할 수 있도록 업그레이드 되어 있으며 암실박스 내부에 설치되어 있어서 전자기파(외부의 광신호 및 전자기파)로부터 보호되어 있어서 다양한 측정이 가능하도록 구성되어 있다. |
장비이미지코드 | https://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201407/2014070811129799.bmp |
장비위치주소 | 한국전기연구원 제3연구동 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2003-04-040868 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | https://www.zeus.go.kr/cloud/resvEq/read/Z-NTIS-0011755?cloudId=200702080237 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |