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장비 및 시설 기본정보
표면나노측정기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Park Systems |
| 모델명 | XE-100 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2008-12-23 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 경성대학교 공동기기센터 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 기타장비 |
| 시설장비 설명 | 표면나노측정기는 미세한 탐침을 시료에 근접시켜 시료와 탐침 끝 사이의 상호작용을 이용하여 표면 형상에 대한 정보를 측정하는 장치임. 캔틸레버의 탐침과 시료표면의 원자 간의 힘에 의해 캔틸레버가 아래위로 휘게 되는데 이때의 레이저 광선이 캔틸레버 윗면에 반사되는 각도를 포토다이오드로 측정하여 표면의 굴곡을 알 수 있음. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images/equip/photo/.thumb/DhTHQM2FBl2Q2CVqDHCc_w600.jpg |
| 장비위치주소 | 경성대학교 공동기기센터 |
| NFEC 등록번호 | |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-ks_CIA-00017 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |