| 보유기관명 |
서울과학기술대학교 산학협력단 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
D103 |
| 표준분류명 |
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| 시설장비 설명 |
전기전자기기의 전원부 파괴 및 오동작의 원인 중 자연 현상적으로 발생되는 유도뢰에 의한 문제점이 꾸준히 발생되고 있는데 이에 대하여 제품개발시부터 충분한 Surge시험과 Lighting Surge대책을 세워야 한다. 이 장비는 IEC pub.61000-4-5 규격시험뿐만 아니라 그보다 높은 시험까지도 수행할 수 있으며 Open-circuit 1.2/50㎲ 전압파형과 Short-circuit 8/20㎲전류파형을 발생시키는 Combination Wave발생부 및 Injection unit인 CDN으로 구성되어 있다. 또한 Surge출력전압이 15kV까지 발생되기 때문에 피시험체에 대한 파괴시험 및 한계시험까지도 수행 할 수 있다.Specifications - IEC pub.61000-4-5(EN61000-4-5/CE MARK) - Output Wave : Combination 1.2/50㎲ + 8/20㎲ - Output Voltage/Current : 15kV/7500A - Output Impedance : 2Ω(Combination Wave) - Surge Coupling : Line-Line 18㎌ Line-PE 10Ω+9㎌ - AC/DC Line Injection Unit : AC600V/50A DC60V/20A - Decoupling Coil : 1.5mH - Decoupling Condenser : 10㎌(Line-Line Line-PE)전기전자기기의 전원부 파괴 및 오동작의 원인 중 자연 현상적으로 발생되는 유도뢰에 의한 문제점이 꾸준히 발생되고 있는데 이에 대하여 제품개발시부터 충분한 Surge시험과 Lighting Surge대책을 세워야 한다. 이 장비는 IEC pub.61000-4-5 규격시험뿐만 아니라 그보다 높은 시험까지도 수행할 수 있다 |
| 장비이미지코드 |
http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110126180012.jpg |
| 장비위치주소 |
서울특별시 노원구 공릉로 232 (공릉동) 서울과학기술대학교 혜성관 1층 125 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2007-10-003507 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0000692 |
| 첨부파일 |
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