Evaluation of Dark Conductivity of FR4 Printed Circuit Board Used for Spacecrafts
기관명 | NDSL |
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저널명 | 宇航材料工藝 = Aerospace materials technology |
ISSN | 1007-2330, |
ISBN |
저자(한글) | LI, Cun-hui,LIU, Qing,QIN, Xiao-gang,CHEN, Yi-feng,YANG, Sheng-sheng |
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저자(영문) | |
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소속기관(영문) | |
출판인 | |
간행물 번호 | |
발행연도 | 2014-01-01 |
초록 | 절연재료(insulating materials) 전기전도율은 위성 전하 축적 과정의 중요한 재료학적 매개변수이다. 또한 우주비행체 표면의 전하 분포 상태 및 전류 평형의 빠르고 늦음을 결정짓는다. 일반적인 전기전도율 측정 방법은 우주공간의 진실한 대전 환경(charged environment)을 완전 무시한 원인으로 측정 결과를 위성 대전 보호 설계에 적용할 경우 큰 오차가 발생한다. 본 논문은 전통적인 3전극법(three-electrode method)과 전하 감쇠법(charge storage decay method)을 적용하여 절연재료 고유 전기전도율 측정 시스템을 구축하였다. 본 시스템으로 위성에 일반적으로 사용되는 FR4 재료를 측정한 결과는 중국 외에서 측정한 결과와 근사하였다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=NART&cn=NART75837912 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
DDC 분류 | |
주제어 (키워드) | Charge storage decay method,FR4 printed circuit board,Bulk resistivity,Dark conductivity,전하 감쇠법,FR4,벌크 저항,고유 전기전도율 |