Design of IGBT Fault Prognosis Based on Accelerated Performance Degradation Experiment
기관명 | NDSL |
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저널명 | 測控技術 = Measurement control technology |
ISSN | 1000-8829, |
ISBN |
저자(한글) | ZHENG, Ji-fei,LI, Fan,ZENG, Zhao-yang,DU, Yi |
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저자(영문) | |
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소속기관(영문) | |
출판인 | |
간행물 번호 | |
발행연도 | 2012-01-01 |
초록 | 고장예지 및 건전성 관리(Prognostics and Health Management, PHM)기술은 결함의 검출과 진단, 예측 그리고 상태 평가 및 통합적 의사 결정 기능을 수행한다. 한편, 항공기의 유지 보수, 사용 및 안전성 보장(security) 비용을 절감하고 항공기 대기율(readiness rates), 임무 성공율 뿐만 아니라 안전성과 가용성을 향상시킨다. 주로 항공 전자 기기에 대한 결함 예측(fault prediction)을 현실화하는 방법에 주의를 기울였다. 실험 대상을 항공기에서 통상 사용하는 IGBT로 선택하였고 가속 성능 열화(accelerated performance degradation)의 기술을 채택하였으며 PXI 기반 모니터링 플랫폼과 결합하여 실험을 실행하였다. 실험 데이터에 근거하여 가속 성능 열화 곡선이 그려지고 분석되었다. 이는 IGBT 가속 수명 실험의 실현을 위해 기초를 마련하였다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=NART&cn=NART66522035 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
DDC 분류 | |
주제어 (키워드) | accelerated performance degradation,fault prediction,LabVIEW,가속 성능 열화,결함 예측,LabVIEW |