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FPGA 블록 내의 자동 패턴 생성을 위한 가속 및 메모리 상의 가속을 갖는 시험기

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기관명	NDSL
출원인	주식회사 아도반테스토
출원번호	10-2015-7025775
출원일자	2015-09-18
공개번호	20160218
공개일자	0000-00-00
등록번호
등록일자	0000-00-00
권리구분	KUPA
초록	반도체 디바이스들의 고속 시험을 수행할 수 있는 자동 시험 장비가 제시된다.자동 시험 장비 장치는 시험기 프로세서를 포함하는 컴퓨터 시스템을 포함하고, 시험기 프로세서는 복수의 FPGA 컴포넌트들에 통신가능하게 연결된다.복수의 FPGA 컴포넌트들의 각각은 메모리 모듈에 연결되고, 시험기 프로세서로부터의 커맨드들 및 데이터를 수신하도록 동작가능한 업스트림 포트; 복수의 DUT들로부터의 각각의 DUT와 통신하도록 동작가능한 다운스트림 포트; 및 복수의 하드웨어 가속기 회로들을 포함하고, 가속기 회로들의 각각은 복수의 DUT들 중 하나와 통신하도록 구성된다.복수의 하드웨어 가속기 회로들의 각각은 복수의 DUT들 중 하나에 기록될 시험 패턴 데이터를 자동으로 생성하도록 구성가능한 패턴 생성기 회로, 및 복수의 DUT들 중 하나로부터 판독된 데이터를 복수의 DUT들 중 하나에 기록된 시험 패턴 데이터와 비교하도록 구성된 비교기 회로를 포함한다.
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020157025775
첨부파일

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