검사 방법 및 장치, 및 리소그래피 장치
기관명 | NDSL |
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출원인 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. |
출원번호 | 10-2016-7019014 |
출원일자 | 2016-07-14 |
공개번호 | 20160825 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | 하나 이상의 제품 피처들이 리소그래피 공정을 이용하여 형성된 기판의 이미지 특성을 보정하는 방법 및 연계된 검사 장치 방법이 개시된다.상기 방법은, 상기 기판의 상기 이미지 특성의 오차를 측정하는 단계; 및 상기 제품 피처(들) 중 하나 이상의 특성 및 측정된 오차에 기초하여 상기 제품 피처들의 후속 형성에 대한 보정들을 결정하는 단계를 포함한다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020167019014 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | |
주제어 (키워드) |