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특허/실용신안

이중 분광계

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 스미스 디텍션 인크.
출원번호 10-2015-7002871
출원일자 2015-02-03
공개번호 20150409
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 예를 들어, IR 분광법 구성요소 및 라만 분광법 구성요소를 이용하는 광학적 분광계 검출을 위한 시스템 및 기술이 개시된다.예를 들어, 시스템은 전자기적 스펙트럼의 제1 영역 내의 전자기적 복사선의 제1 부분으로 샘플을 조사하도록 구성된 제1 전자기적 복사선 공급원(예를 들어, IR 공급원) 및 전자기적 스펙트럼의 제2의 실질적으로 단색인 영역 내의 전자기적 복사선의 제2 부분으로 샘플을 조사하도록 구성된 제2 전자기적 복사선 공급원(예를 들어, 레이저 공급원)을 포함한다.시스템은 또한 제1 전자기적 복사선 공급원과 연관된 샘플로부터 반사된 전자기적 복사선의 특성 및 제2 전자기적 복사선 공급원과 연관된 샘플로부터 반사된 전자기적 복사선의 특성을 분석하는 것에 의해서 샘플의 샘플 구성성분을 검출하도록 구성된 검출기 모듈을 포함한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020157002871
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01J-003/42,G01J-003/02,G01J-003/36,G01J-003/44
주제어 (키워드)