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특허/실용신안

암시야 검사를 위한 맥락 기반 검사

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 케이엘에이-텐코 코포레이션
출원번호 10-2016-7019686
출원일자 2016-07-19
공개번호 20160901
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 웨이퍼 상의 결함을 검출하기 위한 방법 및 시스템이 제공된다.일 방법은 하나 이상의 디자인 클립이 웨이퍼를 위한 웨이퍼 검사 프로세스에 의해 발생된 출력에서 어떻게 나타날 것인지에 기초하여 하나 이상의 디자인 클립을 변경하는 것을 포함한다.방법은 웨이퍼 검사 프로세스 중에 웨이퍼에 대해 발생된 출력에 하나 이상의 변경된 디자인 클립을 정렬하는 것을 또한 포함한다.게다가, 방법은 하나 이상의 변경된 디자인 클립에 정렬된 출력에 기초하여 웨이퍼 상의 결함을 검출하는 것을 포함한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020167019686
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE H01L-021/66,G06T-007/00
주제어 (키워드)