중증 아벨리노 각막이상증과 관련된 돌연변이 및 그 용도
기관명 | NDSL |
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출원인 | 연세대학교 산학협력단 |
출원번호 | 10-2015-0008017 |
출원일자 | 2015-01-16 |
공개번호 | 20160728 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | 본 발명은 종래에 알려진 아벨리노 각막이상증의 유전자 마커인 TGFBI 유전자 상의 R124H 변이에 더하여, H174D, I247N 및 R179X 중 하나 이상의 변이를 추가적으로 검출하는 검출수단을 포함하는 중증 아벨리노 각막이상증의 진단용 키트에 관한 것이다. 본 발명은 간단한 면역학적 분석 또는 유전자형 분석을 통해 중증 아벨리노 각막이상증의 유전적 위험성을 높은 신뢰도로 예측할 수 있다. 또한 본 발명은 부모가 일반적인 아벨리노 각막이상증을 가지는 경우 자녀에게서 중증 아벨리노 각막이상증이 발병할 가능성을 조기에 측정 또는 예측하는 방법으로 유용하게 이용될 수 있다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020150008017 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | C12Q-001/68,G01N-033/53 |
주제어 (키워드) |