다음 처리 단계 이전에 대기 시간 문제를 최소화하기 위해 에칭 사후의 계면을 안정화하기 위한 방법들
기관명 | NDSL |
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출원인 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 |
출원번호 | 10-2016-7009488 |
출원일자 | 2016-04-11 |
공개번호 | 20160519 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | 후속 계면 보호 층 퇴적 프로세스와 함께 저온 에칭 프로세스를 이용하여 기판 상에 배치된 유전체 배리어 층을 에칭하기 위한 방법들이 제공된다.일 실시예에서, 기판 상에 배치된 유전체 배리어 층을 에칭하기 위한 방법은, 유전체 배리어 층이 위에 배치되어 있는 기판을 에칭 처리 챔버 내로 이송하는 단계; 유전체 배리어 층 상에서 처리 프로세스를 수행하는 단계; 기판 상에 배치된 처리된 유전체 배리어 층을 에칭하기 위해 에칭 처리 챔버 내로 공급된 에칭 가스 혼합물에서 플라즈마를 원격으로 생성하는 단계; 기판으로부터 유전체 배리어 층을 제거하기 위해 유전체 배리어 층을 플라즈마 어닐링하는 단계; 및 유전체 배리어가 기판으로부터 제거된 이후에 계면 보호 층을 형성하는 단계를 포함한다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020167009488 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | H01L-021/311,H01J-037/32,H01L-021/02,H01L-021/768 |
주제어 (키워드) |