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특허/실용신안

스펙트럼 편광 이미징 센서

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 워싱톤 유니버시티
출원번호 10-2014-7032267
출원일자 2014-11-18
공개번호 20150115
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 모놀리식 통합 화소 처리 알루미늄 나노와이어를 수직 스택 광검출기와 결합한 센서가 제공된다.알루미늄 나노와이어는 2×2 픽셀 또는 수퍼픽셀의 더미(collection)로서 배치된다.각각의 수퍼픽셀은 45°만큼 오프셋된 4개의 상이한 배향의 나노와이어를 포함한다.따라서, 광학 필드는 0°, 45°, 90° 및 135° 선형 편광 필터로 샘플링된다.공간 서브샘플링 때문에, 보간이 적용되어 전체 0°, 45°, 90° 및 135° 어레이를 재구성할 수 있다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020147032267
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01J-004/04,G01J-003/28,G01N-021/21
주제어 (키워드)