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특허/실용신안

관심 패턴 이미지 집단에 대한 이상치 검출

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 케이엘에이-텐코 코포레이션
출원번호 10-2017-7033643
출원일자 2017-11-21
공개번호 20171221
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 관심 패턴(POI)의 복수의 인스턴스에서 이상치를 식별하는 방법 및 시스템이 제공된다.일 시스템은 또한 시편 상에 형성된 다이 내의 POI의 복수의 인스턴스에서 이미징 서브 시스템에 의해 생성된 이미지를 획득하도록 구성된 하나 이상의 컴퓨터 서브 시스템을 포함한다.복수의 인스턴스는 다이 내의 비주기적인 위치에 위치되는 2개 이상의 인스턴스를 포함한다.컴퓨터 서브 시스템(들)은 또한 POI의 복수의 인스턴스에서 생성된 이미지 각각의 특징을 결정하도록 구성된다.또한, 컴퓨터 서브 시스템(들)은 또한 결정된 특징에 기초하여 POI의 복수의 인스턴스에서 하나 이상의 이상치를 식별하도록 구성된다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020177033643
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G06T-007/00,G06K-009/46
주제어 (키워드)