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특허/실용신안

하전 입자 빔 묘화 장치, 정보 처리 장치, 패턴 검사 장치 및 하전 입자 빔 묘화 방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 가부시키가이샤 뉴플레어 테크놀로지
출원번호 10-2015-0039945
출원일자 2015-03-23
공개번호 20151008
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 실시 형태에 관한 하전 입자 빔 묘화 장치는, 계층마다 요소를 갖는 계층 구조의 묘화 데이터에 있어서의 특정 계층 요소(예를 들어, 셀)에 대응하는 하계층 요소(예를 들어, 패턴)마다의 도형 정보를 저장하는 도형 정보 파일과, 하계층 요소마다 부여하는 속성 정보를 특정 계층 요소에 관한 정보(예를 들어, 인덱스 번호)에 관련지어 저장하는 속성 정보 파일을 구비한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020150039945
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE H01L-021/033,H01L-021/027,H01L-021/66
주제어 (키워드)