전자 소자 테스트 장치용 인터페이스 요소 및 그에 대응하는 제조방법
기관명 | NDSL |
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출원인 | 테크노프로브 에스.피.에이. |
출원번호 | 10-2020-7009666 |
출원일자 | 2020-04-02 |
공개번호 | 20200514 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | 전자 소자 테스트 장치용 인터페이스 요소(20)는 인터커넥션 요소들(23)을 각각 수용하는 다수의 관통형 개구들(22)을 갖는 적어도 하나의 지지체(21)를 포함하되, 상기 인터커넥션 요소들(23)은 제1 말단(23a)과 제2 말단(23b) 사이에서 연장된다. 적절하게는, 상기 인터커넥션 요소들(23)은 상기 지지체(21)의 개구들(22)을 채우는 도전성 엘라스토머로 형성되며, 상기 인터커넥션 요소들(23) 각각은 상기 지지체(21)의 서로 다른 반대측 면들(Fa, Fb) 사이에 도전성 채널을 형성한다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020207009666 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | G01R-001/073,G01R-001/067,G01R-003/00 |
주제어 (키워드) |