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특허/실용신안

산업 공정에서 오염물 및 부식 조절용 검출 기술의 용도

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 베이커 휴지스 인코포레이티드
출원번호 10-2015-7028778
출원일자 2015-10-12
공개번호 20151126
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 시료 내의 적어도 하나의 구성성분을 검출하기 위한 검출 기술을 이용한 장치로 상기 산업용 유체의 시료를 도입함으로써 각 산업용 유체의 장소에서 산업용 유체들을 모니터할 수 있다. 상기 검출 기술은 표면 증강 라만 산란(SERS), 질량 분석(MS), 핵자기 공명(NMR), 자외선(UV) 분광법, UV 분광 광도법, 간접 UV 분광법, 비접촉 전도도, 레이저 유도 형광, 및 이들의 조합일 수 있거나 이를 포함할 수 있다. 하나의 비제한적 구현예에서, 분리 기술은 상기 구성성분을 검출하기 위한 상기 장치에의 시료 도입 전에 상기 시료에 적용될 수 있다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020157028778
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01N-033/26,G01N-001/28,G01N-021/33,G01N-021/64,G01N-021/65,G01N-024/08,G01N-027/62
주제어 (키워드)