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다수 개 부품의 동시 검사를 위한 엑스레이 검사 장치 및 그 방법

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기관명	NDSL
출원인	(주)자비스
출원번호	10-2016-0020397
출원일자	2016-02-22
공개번호	20160311
공개일자	0000-00-00
등록번호
등록일자	0000-00-00
권리구분	KUPA
초록	본 발명은 다수 개 부품의 동시 검사를 위한 엑스레이 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이고, 구체적으로 적어도 두 개의 엑스레이 튜브 및 디텍터에 의하여 다수 개 부품의 동시 검사가 가능하도록 하는 엑스레이 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다. 엑스레이 검사 방법은 적어도 2개의 검사 부품이 대기가 되는 단계; 상기 적어도 2개의 검사 부품이 검사 스테이지로 이송이 되는 단계; 하나의 엑스레이 튜브에 의하여 상기 적어도 2개의 검사 부품의 정해진 부분에 대한 검사가 이루어지는 단계; 상기 적어도 2개의 검사 부품이 이송이 되면서 다른 엑스레이 튜브에 의하여 상기 적어도 2개의 검사 부품의 다른 부분에 대한 검사가 이루어지는 단계; 및 검사가 완료된 적어도 2개의 검사 부품이 대기가 되는 단계를 포함하고, 상기 검사 과정에서 서로 다른 적어도 2개의 검사 부품이 대기 상태로 된다.
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020160020397
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