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특허/실용신안

멀티 하전 입자빔 묘화 장치 및 멀티 하전 입자빔 묘화 방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 가부시키가이샤 뉴플레어 테크놀로지
출원번호 10-2015-0183651
출원일자 2015-12-22
공개번호 20160707
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 본 발명의 일 태양의 멀티 하전 입자빔 묘화 장치는, 멀티 하전 입자빔 중 1 개의 빔당 조사 단위 영역이 되는 화소마다, 당해 화소에 대한 빔 조사량과 당해 화소의 주위 중 적어도 1 개의 화소에 대한 빔 조사량을 변조함으로써 당해 화소에 조사되는 위치 이탈이 발생하고 있는 빔에 의해 형성되는 패턴의 위치 이탈, 치수 이탈을 보정하기 위한 당해 화소에 대한 빔의 변조율과 당해 화소의 주위 중 적어도 1 개의 화소에 대한 빔의 변조율을 산출하는 변조율 데이터 산출부와, 화소마다, 산출된 당해 화소에 대한 빔의 변조율을 당해 화소의 위치에 정의하고, 또한 산출된 당해 화소의 주위 중 상기 적어도 1 개의 화소에 대한 빔의 변조율을 당해 화소와 관련시켜 당해 화소의 주위 중 상기 적어도 1 개의 화소의 위치에 정의하도록, 멀티 하전 입자빔에 의해 묘화되는 묘화 영역에 대하여 변조율이 정의된 변조율 맵을 작성하는 변조율 맵 작성부와, 화소마다, 상기 변조율 맵에 정의된 당해 화소에 대한 빔의 변조율과 당해 화소에 대한 빔 조사량을 곱한 값과, 주위 중 상기 적어도 1 개의 화소로서 상기 변조율 맵의 당해 화소의 위치에 정의된 상기 적어도 1 개의 화소에 대한 빔의 변조율과 상기 적어도 1 개의 화소의 관련처가 되는 화소에 대한 빔 조사량을 곱한 값을 가산한 보정 조사량을 연산하는 보정 조사량 연산부를 구비한 것을 특징으로 한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020150183651
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G03F-001/20,G03F-001/70,G03F-007/20,H01L-021/027
주제어 (키워드)