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특허/실용신안

비피복 전극에 대향하는 가용성 전기화학 활성 코팅부를 갖는 전기화학-기반 분석 검사 스트립

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 라이프스캔 스코트랜드 리미티드
출원번호 10-2016-7000132
출원일자 2016-01-05
공개번호 20160218
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 비피복 전극에 대향하는 가용성 전기화학 활성 코팅부를 갖는 전기화학-기반 분석 검사 스트립. 체액 샘플 내의 분석물의 판정을 위한 전기화학-기반 분석 검사 스트립(EBATS)은, 전기 절연성 베이스 층, 전기 절연성 베이스 층 상에 배치되고 복수의 전극들을 포함하는 패턴화된 전기 전도성 층, 및 패턴화된 전도체 층의 일부분 상에 배치되며 복수의 전극들로부터 비피복 전극(들) 및 복수의 효소 시약 피복 전극들을 형성하는 효소 시약 층을 포함한다.EBATS는 또한 패턴화된 스페이서 층, 하측 표면(USS)을 갖는 상부 층, 및 상부 층의 USS 상에 배치된 가용성 전기화학 활성 코팅부(SEAC)를 포함한다.추가적으로, 적어도 패턴화된 스페이서 층 및 상부 층은 EBATS 내에 샘플 수용 챔버를 형성한다.게다가, SEAC는 비피복 전극들과 대향 관계로 샘플 수용 챔버의 적어도 일부분 내에서 상부 층의 USS 상에 배치된다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020167000132
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01N-027/327,C12Q-001/00,C12Q-001/26,C12Q-001/32,G01N-033/487,G01N-033/66
주제어 (키워드)