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특허/실용신안

대상 시료의 영역의 두께를 줄이는 방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 옥스포드 인스트루먼츠 나노테크놀로지 툴스 리미티드
출원번호 10-2015-7035160
출원일자 2015-12-10
공개번호 20160121
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 대상 시료의 영역의 두께를 줄이는 방법이 제공된다. 제1 세트의 빔 조건 하에서 기준 시료의 일부에 지시되는 입자 빔에 의해 발생하는 엑스레이의 표현인 기준 데이터가 얻어진다. 제2 세트의 빔 조건 하에서 입자 빔이 대상 시료의 영역에 지시된다. 엑스레이의 결과는 감시된 데이터로서 감시된다. 출력 데이터는 그 후 기준 및 감시된 데이터를 기반으로 계산된다. 물질은 그 후 영역으로부터 제거되어, 그것의 두께를 출력 데이터에 따라 줄일 수 있도록 한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020157035160
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE H01J-037/304,H01J-037/305
주제어 (키워드)