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듀얼 챔버 분석 검사 스트립

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기관명	NDSL
출원인	시락 게엠베하 인터내셔날
출원번호	10-2016-7015971
출원일자	2016-06-15
공개번호	20160728
공개일자	0000-00-00
등록번호
등록일자	0000-00-00
권리구분	KUPA
초록	분석 검사 스트립은 각각의 포트들을 갖는 2개의 유체적으로-분리된 샘플 셀들을 한정하는 패턴화된 한정 층, 한정 층 위에 배열되고 셀들 각각과 전기적으로 통신하는 공통 전극, 및 각각의 셀 전극들을 포함할 수 있다.각 전극의 표면 부분들이 노출될 수 있다.이러한 스트립을 이용하여 유체 샘플을 검사하기 위한 방법은 제1 샘플 셀에 제1 유체 샘플을 수용하는 단계, 및 그것의 제1 전기적 특성을 검출하는 단계를 포함한다.이어서, 제2 유체 샘플이 다른 샘플 셀에 추가되어야 하는지 여부가 판정된다.분석물 측정 시스템은 이러한 스트립 및 스트립을 수용하는 검사 측정기를 포함할 수 있다.검사 측정기는 셀들 내의 유체 샘플들의 각각의 전기적 특성들을 검출할 수 있다.
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020167015971
첨부파일

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