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특허/실용신안

미세-방전 기반 계측 시스템

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 스말테크 인터내셔날, 엘엘씨
출원번호 10-2013-7030561
출원일자 2013-11-18
공개번호 20140410
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 미세-방전 가공기 기반 계측 시스템은 감지 회로를 구비한 제어 유닛, 및 감지 프로브를 구비한 미세-방전 가공기를 포함한다. 미세-방전 가공기 기반 계측 시스템은 피코-줄 에너지 레벨로 공작물의 치수를 감지할 수 있다. 미세-방전 가공기 기반 계측 시스템은 공정내 품질 보장/품질 제어가 가능한 비접촉, 비파괴, 온-보드 계측 시스템이다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020137030561
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE B23H-001/02,B23H-007/26,B23H-011/00
주제어 (키워드)