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특허/실용신안

다중-분광기 각도 스펙트로스코픽 엘립소메트리

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 케이엘에이-텐코 코포레이션
출원번호 10-2018-7006691
출원일자 2018-03-07
공개번호 20180322
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 향상된 안정성들을 갖는 엘립소메트리(ellipsometry) 시스템들 및 엘립소메트리 데이터 수집 방법들이 개시된다.본 개시물에 따라, 다수의 미리 결정된 이산 분광기 각도들이 단일 측정을 위한 엘립소메트리 데이터를 수집하는데 이용되며, 데이터 회귀(data regression)가 이들 미리 결정된 이산 분광기 각도들에서 수집된 엘립소메트리 데이터에 기반하여 수행된다.단일 측정을 위해 다수의 이산 분광기 각도들을 이용하는 것은 엘립소메트리 시스템의 안정성을 향상시킨다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020187006691
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01N-021/21,G01N-021/95
주제어 (키워드)