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특허/실용신안

전리권의 전자 밀도 분포 예측 장치 및 그 방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 ,
출원번호 10-2016-0001421
출원일자 2016-01-06
공개번호 20160325
공개일자 2016-03-22
등록번호 10-1605385-0000
등록일자 2016-03-16
권리구분 KPTN
초록 본 발명은 전리권의 전자 밀도 분포 예측 장치 및 그 방법을 개시한다. 즉, 본 발명은 전리권의 전자 밀도 분포 예측의 정확도를 높이기 위해서 날짜, 태양 전파 플럭스 지수(또는 F10.7 index), 지구 자기장 교란 지수(또는 Ap index), 태양 복사 플럭스(0.1nm ~ 105.0nm), 이온 온도, 2차 광이온화 과정 등을 추가로 적용하여 위도 및 경도에 따른 위치별 전자 밀도, 이온 온도, 전자 온도 등을 산출함으로써, 기존 SAMI2 모델을 이용한 전리권에서의 전자 밀도, 이온 온도, 전자 온도 등을 산출하는데 비해 보다 정밀하고 정확한 전리권에서의 전자 밀도, 이온 온도, 전자 온도 등을 산출하여 신뢰성을 높일 수 있다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020160001421
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01S-019/07,G01S-013/95,G01W-001/16
주제어 (키워드)