기판의 모델을 평가하는 방법, 검사 장치 및 리소그래피 장치
기관명 | NDSL |
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출원인 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. |
출원번호 | 10-2016-7011043 |
출원일자 | 2016-04-26 |
공개번호 | 20160519 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | 기판의 모델을 평가하는 방법이 제시된다.제 1 파장에서의 방사선을 이용하여 스케터로메트리 측정이 수행된다.그 후, 방사선의 파장이 변화되고, 추가 스케터로메트리 측정이 수행된다.스케터로메트리 측정들이 파장들의 범위 전체에서 일치하는 경우, 모델은 충분히 정확하다.하지만, 파장이 변함에 따라 스케터로메트리 측정들이 변하는 경우, 기판의 모델은 충분히 정확하지 않다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020167011043 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | G03F-007/20,G01N-021/47,G01N-021/88,G01N-021/95,G01N-021/956,G03F-001/84 |
주제어 (키워드) |