기업조회

본문 바로가기 주메뉴 바로가기

특허/실용신안

X선전 사장치

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼
출원번호 10-1987-0012222
출원일자 1987-11-02
공개번호 20080509
공개일자 1990-10-22
등록번호 10-0039923-0000
등록일자 1991-02-20
권리구분 KPTN
초록 얼라인먼트 검출 촬영 수단 등의 온도 상승에 의한 위치 검출값의 드리프트 현상을 방지하여, 전원 투입 후 단시간 내에 높은 정밀도로 사용할 수 있는 X선 전사 장치를 제공한다. 연성 X선 발생 장치(1), X선 발생 장치의 X서 방출 창에 접속되고, 내부에 X선의 투과율이 높은 기체를 채운 대기 챔버(2)와, 대기 챔버에 부착되는 마스크,마스크에 대향시켜 미소한 간극을 두어 웨이퍼를 장치하는 스테이지(5), 대기 챔버내에 마련되고 또한 마스크 및 웨이퍼의 얼라인먼트의 상을 결합시키는 검출 광학계(6) 및 검출 광학계에서 상을 결합시킨 얼라인먼트의 상을 촬영하여 영상 신호로 변화하는 촬영 장치(9), 촬영 장치에서 발생하는 열에 의해 챔버내의 기체의 온도 상승을 방지하여 검출 광학계의 드리프트를 없애게 하고 촬영 장치가 설치된 부근의 기체를 배출시키는 배출구, 배출된 기체를 냉각해서 보내는 열교환기(16)와 송풍기(15), 열교환기(16)와 송풍기(15)로 부터의 기체를 대기 챔버내로 되돌려서 순환시키는 취출구를 구비하여 설치한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1019870012222
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE
주제어 (키워드)