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특허/실용신안

계측 장치 및 계측 방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 오므론 가부시키가이샤
출원번호 10-2015-7024796
출원일자 2015-09-10
공개번호 20151029
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 본 발명의 계측 장치(1)는, 물리량 변환부의 일례인 CT(2)의 출력 전류를 계측하는 계측 회로(4)와, 계측 회로의 출력을 입력으로 하는 전원 회로(6)를 구비한다.또한, 계측 회로의 출력을 전원 회로에 입력하는 회로를 구성하는 제1 상태와, 계측 회로의 출력을 CT에 직접 입력하는 회로를 구성하는 제2 상태를 전환하는 회로 전환부로서의 1쌍의 FET(71, 72)와, 전원 회로에 의해 구동되며, FET의 제어를 행하는 전환 제어부(122)를 구비한다.전환 제어부는, 대기 시에 FET를 제1 상태가 되도록 제어하고, 계측 시에는 FET를 제2 상태가 되도록 제어한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020157024796
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01R-019/00,G01R-015/18,G01R-019/165
주제어 (키워드)