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특허/실용신안

센서 시스템, 장치, 및 관련된 방법에서의 전기화학적 임피던스 분광학의 응용

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 메드트로닉 미니메드 인코포레이티드
출원번호 10-2016-7012678
출원일자 2016-05-13
공개번호 20160603
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 하나 이상의 감지 전극에 대한 임피던스-관련된 파라미터들의 값들을 측정하기 위해 진단 EIS(Electrochemical Impedance Spectroscopy) 프로시져가 적용된다.파라미터들은, 실수 임피던스, 허수 임피던스, 임피던스 크기, 및/또는 위상각을 포함한다.그 다음, 임피던스-관련된 파라미터들의 측정된 값들은, 센서 진단을 수행하고, 복수의 리던던트 감지 전극으로부터의 신호들에 기초하여 신뢰성이 높은 융합된 센서 글루코스 값을 계산하며, 센서를 캘리브레이트하고, 하나 이상의 감지 전극의 부근 내의 간섭요소를 검출하며, 전기도금된 전극의 표면 영역 특성을 테스팅하는데 이용된다.유익하게도, 특정한 범위의 주파수에 관해 실질적으로 글루코스-독립인 임피던스-관련된 파라미터들이 정의될 수 있다.주문형 집적 회로(ASIC)는 EIS-기반의 진단의 구현, 융합 알고리즘, 및 EIS-기반의 파라미터들의 측정에 기초한 기타의 프로세스를 가능하게 한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020167012678
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE A61B-005/145,A61B-005/00,A61B-005/1486,A61B-005/1495,A61M-005/142,A61M-005/158,A61M-005/172
주제어 (키워드)