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특허/실용신안

해부학적 랜드마크로 기록 파라미터의 값을 판정

특허 실용신안 개요

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기관명 NDSL
출원인 지멘스 악티엔게젤샤프트
출원번호 10-2014-0135767
출원일자 2014-10-08
공개번호 20150424
공개일자 2016-08-29
등록번호 10-1651959-0000
등록일자 2016-08-23
권리구분 KPTN
초록 해부학적 랜드마크로 기록 파라미터의 값을 판정 본 발명은 기록 파라미터를 판정하기 위한 방법 및 영상 시스템에 관한 것이다.검사 테이블에 위치해 있는 환자의 X-선 영상의 기록을 위한 적어도 하나의 기록 파라미터의 적어도 하나의 값을 판정하기 위한 본 발명의 방법은 방사선에 추가 노출 없이 스캔된 표면의 3차원 윤곽을 계산하기 위해서, 적어도 하나의 전자기 센서로 환자의 표면의 적어도 일부를 비접촉 스캐닝하는 것을 이용한다.본 발명자들은 환자의 적어도 하나의 해부학적 랜드마크가 3차원 윤곽을 이용하여 식별될 수 있고, 해부학적 랜드마크의 위치가 검사 테이블의 좌표계에서 판정될 수 있다고 인식하였다.기록 파라미터의 값은 해부학적 랜드마크의 위치를 이용하여 판정될 수 있다.표면들의 비접촉 스캐닝이 기술의 관점에서 빠르고 쉽게 성취될 수 있으므로 기록 파라미터의 값도 기술의 관점에서 빠르고 쉽게 판정될 수 있다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020140135767
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE A61B-006/03,A61B-006/04
주제어 (키워드)