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특허/실용신안

파면 기술에 기반한 비구면 렌즈 편심 검출장치 및 그 검출방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 쑤저우 인스티튜트 오브 바이오메디컬 엔지니어링 엔드 테크놀러지, 차이니즈 아카데미 오브 사이언시스
출원번호 10-2019-7034821
출원일자 2019-11-25
공개번호 20200610
공개일자 2021-08-25
등록번호 10-2292329-0000
등록일자 2021-08-17
권리구분 KPTN
초록 본 발명은 파면 기술에 기반한 비구면 렌즈 편심 검출장치 및 그 검출방법에 관한 것이며, 그 장치는 상부 광섬유 광원, 상부 콜리메이터 대물렌즈, 상부 광원 빔 스플리터, 상부 빔 수축 전면렌즈, 상부 빔 수축 후면렌즈, 상부 이미징 검출기, 상부 이미징 빔 스플리터, 상부 파면 센서, 피검 렌즈 홀더장치, 하부 광원 빔 스플리터, 하부 빔 수축 전면렌즈, 하부 빔 수축 후면렌즈, 하부 이미징 빔 스플리터, 하부 파면 센서, 하부 이미징 검출기, 하부 콜리메이터 대물렌즈 및 하부 광섬유 광원을 포함한다. 본 발명은 비접촉식 검출로서 렌즈의 손상 위험이 존재하지 않으며, 장치 중에 운동부재가 없고, 시스템의 신뢰성과 안정성이 높다. 본 발명은 비구면 렌즈의 유효 구경 내 복수의 편심 오차를 한 번에 검출할 수 있기 때문에, 스티칭 검출로 인한 오차를 피할 수 있는 동시에 검출시간을 크게 단축시키고, 어셈블리 라인의 온라인 검출에 사용할 수 있다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020197034821
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01M-011/02,G01N-021/17
주제어 (키워드)