와전류 센서를 위한 게인의 결정
기관명 | NDSL |
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출원인 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 |
출원번호 | 10-2016-7014310 |
출원일자 | 2016-05-27 |
공개번호 | 20160707 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | 일 양상에서, 폴리싱을 제어하는 방법은, 인-라인 또는 독립형 모니터링 시스템으로부터, 제 1 기판을 폴리싱하기 전에, 제 1 기판 상의 전도성 막의 초기 두께의 측정치를 수신하는 단계, 폴리싱 시스템에서 하나 또는 그 초과의 기판들을 폴리싱하는 단계 ― 하나 또는 그 초과의 기판들은 제 1 기판을 포함함 ―, 하나 또는 그 초과의 기판들의 폴리싱 동안에, 제 1 신호를 생성하기 위해, 와전류 모니터링 시스템을 이용하여, 하나 또는 그 초과의 기판들을 모니터링하는 단계, 제 1 기판의 폴리싱의 시작을 위해 제 1 신호의 시작 값을 결정하는 단계, 초기 두께의 측정치 및 시작 값에 기초하여, 게인을 결정하는 단계, 하나 또는 그 초과의 기판들 중 적어도 하나의 기판의 폴리싱 동안에 수집된 제 1 신호의 적어도 일부에 대해, 게인 및 제 1 신호에 기초하여, 제 2 신호를 계산하는 단계를 포함한다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020167014310 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | H01L-021/304,B24B-037/005,B24B-049/10,H01L-021/306,H01L-021/66 |
주제어 (키워드) |