| 초록 |
본 발명의 목적은 중성자에 의한 핵분열 반응 및 저온검출기를 이용한 핵물질 측정방법 및 이에 사용되는 장치를 제공하는 데 있다. 이를 위하여, 본 발명은 시료에 중성자를 조사하는 단계(단계 1); 상기 단계 1에서 중성자 조사로 인한 핵분열 반응에 의한 온도변화에 따른 온도신호를 얻는 단계(단계 2); 및 상기 단계 2의 온도신호로부터 핵분열 반응 발생률을 측정하고, 핵물질을 판별하는 단계(단계 3);를 포함하는 중성자에 의한 핵분열 반응 및 저온검출기를 이용한 핵물질 측정방법을 제공한다. 또한, 본 발명은 시료가 봉입된 금박 포일; 상기 금박 포일의 일면에 부착되는 저온검출기; 상기 저온검출기로부터 검출된 신호를 증폭하는 증폭수단; 상기 금박 포일, 저온검출기 및 증폭수단을 내부로 수용하여 밀폐된 계를 형성시키는 쳄버; 및 중성자를 상기 쳄버로 유출시키는 중성자 원;을 포함하는 것을 특징으로 하는 중성자에 의한 핵분열 반응 및 저온검출기를 이용한 핵물질 측정 장치를 제공한다. 본 발명에 따르면, 저온검출기를 이용한 Q-분광학 기술에서 알파 붕괴에 따르는 알파 입자를 측정하던 것을 중성자에 의한 핵분열에 따르는 핵분열 생성물을 측정하는 것으로 대체하여 측정의 감도 및 신호대비 잡음비를 향상시켜 더 적은 양의 핵물질에 대한 측정을 보다 용이하고 빠르게 수행할 수 있다는 효과가 있다. |
