| 초록 |
본 발명은, 더미 와이어와, 더미 와이어와 전기적으로 연결된 전극과, 2개의 전극 사이에 위치하는 써미스터 칩과, 상기 전극 및 써미스터 칩을 둘러싸는 보호막을 포함하는 써미스터 소자의 가속 수명 시험을 수행하는 방법에 있어서, 상기 써미스터 소자에 상온에서 5V를 인가하면서 가속 수명 실험을 수행하고, 가속 수명 시험 시간(t)은, (여기서, 1-β: 신뢰수준, n: 시료수, m: 형상모수, H 0 : 사용조건에서의 습도, H a : 가속조건에서의 습도, T 0 : 사용조건에서의 절대온도, T a : 가속조건에서의 절대온도, B 10 : 목표 수명)으로 정의되는 써미스터 소자의 가속 수명 시험방법에 관한 것이다. 본 발명에 의하면, 써미스터 소자의 고장메커니즘을 고려한 가속수명시험을 통하여 시험 시간을 획기적으로 단축할 수 있고, 써미스터 소자의 신뢰성을 검증할 수 있는 신뢰성 평가 조건이 제시됨으로써 써미스터 소자의 수명에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있으며, 수명 평가를 통해 써미스터 소자에 대한 수명을 정확히 예측하여 교체 주기 및 제품 생산량을 예측할 수 있다. |
