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특허/실용신안

X-Ray Metal Grating Structure Manufacturing Method And X-Ray Imaging Device

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 YOKOYAMA, Mitsuru
출원번호 US-0040737
출원일자 2016-02-10
공개번호 20160811
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 USAP
초록 An X-ray metal grating structure manufacturing method of the present invention includes: in a metal substrate having a patterned resist layer on a principal surface thereof, forming a plurality of pores in a portion of the metal substrate corresponding to a removed portion of the resist layer, by an anodic oxidation process, and removing the portion formed with the plurality of pores to form a recess. An X-ray imaging device of the present invention includes the X-ray metal grating structure manufactured by the X-ray metal grating structure manufacturing method.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=USAP&cn=USA2016080233002
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G21K-001/06(2006.01),C25D-011/02(2006.01),G01N-023/04(2006.01)
주제어 (키워드)