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광학 이방성의 파라미터들을 측정하기 위한 방법 및 장치

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기관명	NDSL
출원인	엑소메트릭스, 인코포레이티드
출원번호	10-2016-7007723
출원일자	2016-03-23
공개번호	20160519
공개일자	0000-00-00
등록번호
등록일자	0000-00-00
권리구분	KUPA
초록	유리 또는 다른 기판들 상의 필름의 광학 이방성 특성들을 측정하기 위한 방법들 및 시스템들이 제공된다.이런 기술은 생산 환경에 적합하고, 매우 높은 픽셀 밀도 디스플레이들에 대해서도, LCD 패널 상의 TFT 또는 CF 활성 영역에 의해 크게 영향을 받지 않는다.광학 이방성의 크기와 배향을 측정하기 위한 방법이 제공된다.이들 방법 및 시스템은 반사 또는 투과 구성에서 이방성 물질들을 측정하기 위한 광학 이방성 측정 장치를 포함한다.방법들 및 시스템들은 이방성 크기와 배향을 계산하기 위해 하나 이상의 회전 각도에서 샘플의 뮐러 매트릭스, 디어텐뉴에이션 배향 또는 지연을 측정할 수 있다.
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020167007723
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