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전리층 사입사 관측 데이터를 이용한 전리층 직입사 파라미터 추출 및 표출 장치 및 방법

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기관명	NDSL
출원인	한국전자통신연구원
출원번호	10-2015-0023958
출원일자	2015-02-17
공개번호	20160901
공개일자	0000-00-00
등록번호
등록일자	0000-00-00
권리구분	KUPA
초록	본 발명은 HF(High Frequency) 대역 레이다를 통해 관측되는 전리층 사입사 자료로부터 사입사 관측지점 상공의 전리층 직입사 파라미터 정보를 추출하고 표출하는 기술에 관한 것으로서, 서로 다른 지역에 위치하는 적어도 둘 이상의 전리층 관측기로부터의 사입사 관측 원시 데이터를 수집하는 수집부, 상기 수집된 사입사 관측 원시 데이터에 기초하여 사입사 추세선(Trace)를 추출하는 제1 처리부, 및 상기 추출된 사입사 추세선(Trace)에 기초하여 직입사 추세선(Trace)로 변환하고, 상기 변환된 직입사 추세선(Trace)에 기초하여 전리층 정보를 추출하는 제2 처리부를 포함한다.
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020150023958
첨부파일

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