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특허/실용신안

빔 검사 시스템 및 이를 이용한 빔 검사 방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 라선유
출원번호 10-2014-0160153
출원일자 2014-11-17
공개번호 20160526
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 본 발명은 빔 검사 시스템 및 이를 이용한 빔 검사 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 치료용 또는 연구용 가속기에서 생성하는 빔의 단면을 검사하기 위한 빔 검사 장치와, 중앙서버 및 관리자 단말기를 포함하는 빔 검사 시스템을 이용하여, 관리자가 중앙서버에 접속하거나 빔 검사 장치에 직접 접속하여 실시간으로 빔의 단면을 검사할 수 있으며 검사 정확도가 높고 통합된 검사 시스템에 의하여 간편히 빔을 검사할 수 있는 빔 검사 시스템 및 이를 이용한 빔 검사 방법에 관한 것이다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020140160153
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE H01J-037/08,G01J-001/42,H01J-027/02
주제어 (키워드)