기업조회

본문 바로가기 주메뉴 바로가기

특허/실용신안

관통 위치를 비접촉식으로 광학 검출하기 위한 측정 프레임 및 측정 방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 마이톤 일렉트로닉 게엠베하
출원번호 10-2015-7036956
출원일자 2015-12-29
공개번호 20160211
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 본 발명은 타깃 표면(102)을 통과하는 총알(134)의 관통 위치를 비접촉식으로 광학 검출하기 위한 측정 프레임(106)에 관한 것이다. 또한, 본 발명은 관련 측정 및 평가 방법에 관한 것이다. 본 발명은 또한 적어도 하나의 이러한 측정 프레임(106)을 사용하는 디스플레이 시스템에 관한 것이다. 측정 프레임은 제 1 발산 방사선 필드를 방출하기 위한 적어도 하나의 제 1 방사선 소스(120), 및 제 2 발산 방사선 필드를 방출하기 위한 적어도 하나의 제 2 방사선 소스를 포함하며, 상기 제 1 및 제 2 방사선 필드는 관통 방향에 대해 수직인 평면에서 특정 각도로 교차한다.상기 측정 프레임은 또한 상기 적어도 하나의 제 1 및 제 2 방사선 소스에 각각 할당된 적어도 하나의 제 1 광학 수신 장치(126) 및 적어도 하나의 제 2 광학 수신 장치(126')를 포함한다.상기 광학 수신 장치의 각각은 광학 수신 소자들의 어레이를 포함하며, 상기 광학 수신 소자들은 검출될 총알로 인해 공간적으로 연장되는 셰이딩 위치가 결정되도록 평가될 수 있다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020157036956
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE F41J-005/02,F41J-001/00,G01B-011/03,G01V-008/10
주제어 (키워드)