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특허/실용신안

산란 측정 오버레이 계측 타겟 및 방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 케이엘에이-텐코 코포레이션
출원번호 10-2015-7036089
출원일자 2015-12-21
공개번호 20160211
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 산란 측정 오버레이(SCOL) 타겟뿐만 아니라 그 설계, 생산 및 측정 방법이 제공된다. SCOL 타겟은 그들의 구조적 타겟 요소 또는 그 구성품들 중 일부를 공유하는 상이한 측정 방향으로 수 개의 주기적 구조물을 갖는다. 공통 요소의 어레이는 측정 방향에 평행하고 그에 따라서 타겟을 소형화하고 또는 대안적으로 타겟의 영역 사용 효율성을 증가시킬 수 있는 대칭 방향을 가질 수 있다. 각종 구성은 타겟 내 및 측정 방향으로 다수의 층들을 배열하고 상기 층들 중에서 각각의 오버레이 측정을 실시함에 있어서 융통성을 높일 수 있다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020157036089
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G03F-007/20,H01L-021/66
주제어 (키워드)