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다중 특허지표를 이용한 기술 수명 주기 분석 장치

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기관명	NDSL
출원인	한국과학기술정보연구원
출원번호	10-2015-0183080
출원일자	2015-12-21
공개번호	20160623
공개일자	2016-06-21
등록번호	10-1629178-0000
등록일자	2016-06-03
권리구분	KPTN
초록	본 발명은 대상 기술이 포함된 분야의 특허를 수집하는 데이터 수집 모듈, 수집한 특허를 구조화하는 데이터 전처리 모듈, 특허에서 기술 수명 주기 분석을 위한 시계열 특허지수를 정의하고 추출하는 특허지수 추출 모듈, 대상 기술이 현재 속해 있는 기술 수명 주기의 진행 단계를 측정하는 분석 모듈을 포함하는 다중 특허지표를 이용한 기술 수명 주기 분석 장치에 관한 것이다.
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020150183080
첨부파일

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