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특허/실용신안

저온에서 SiN을 퇴적시키기 위한 Si 전구체들

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.
출원번호 10-2024-0093083
출원일자 2024-07-15
공개번호 20240725
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 원자층 퇴적(ALD에 의하여 실리콘 질화물 막들을 퇴적시키기 위한 전구체들과 방법들이 제공된다.일부 구현예들에서, 실리콘 전구체들은 요오드 리간드를 포함한다.실리콘 질화물 막들은 FinFET류 또는 다른 타입의 다중 게이트 FET류와 같은 3-차원 구조물 위에 퇴적되었을 때 수평 부분과 수직 부분 모두에 대하여 상대적으로 균일한 식각 속도를 가질 수 있다.일부 구현예들에서, 본 발명의 다양한 실리콘 질화물 막들은 열 산화물 제거 속도의 절반 미만의 식각 속도를 묽은 HF(0.5%)에서 갖는다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020240093083
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE H01L-021/02,C23C-016/34,C23C-016/455,C23C-016/507,H01L-029/66
주제어 (키워드)