저온에서 SiN을 퇴적시키기 위한 Si 전구체들
기관명 | NDSL |
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출원인 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. |
출원번호 | 10-2024-0093083 |
출원일자 | 2024-07-15 |
공개번호 | 20240725 |
공개일자 | 0000-00-00 |
등록번호 | |
등록일자 | 0000-00-00 |
권리구분 | KUPA |
초록 | 원자층 퇴적(ALD에 의하여 실리콘 질화물 막들을 퇴적시키기 위한 전구체들과 방법들이 제공된다.일부 구현예들에서, 실리콘 전구체들은 요오드 리간드를 포함한다.실리콘 질화물 막들은 FinFET류 또는 다른 타입의 다중 게이트 FET류와 같은 3-차원 구조물 위에 퇴적되었을 때 수평 부분과 수직 부분 모두에 대하여 상대적으로 균일한 식각 속도를 가질 수 있다.일부 구현예들에서, 본 발명의 다양한 실리콘 질화물 막들은 열 산화물 제거 속도의 절반 미만의 식각 속도를 묽은 HF(0.5%)에서 갖는다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020240093083 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | H01L-021/02,C23C-016/34,C23C-016/455,C23C-016/507,H01L-029/66 |
주제어 (키워드) |